Perfilador profesional de superficies con agulla

El Professional Stylus Surface Profiler integra tecnología avanzada de medición con una plataforma estable y fácil de usar, proporcionando una caracterización precisa de la superficie para laboratorios modernos y entornos de producción. Ofrece excelente precisión, repetibilidad fiable y funcionamiento eficiente, lo que lo hace adecuado tanto para aplicaciones de investigación como de control de calidad industrial.

Diseñado para el análisis superficial de alta resolución, este sistema soporta la rugosidad a escala nanométrica, la altura del escalón y la medición de topografía 3D. Se utiliza ampliamente en microelectrónica, semiconductores, fabricación de pantallas, energía solar, dispositivos médicos e investigación de materiales avanzados, ayudando a los usuarios a lograr un control superior de procesos desde la investigación y desarrollo hasta la inspección final.

Perfilador profesional de superficies con aguja aguja – Medición de altura y rugosidad superficial a nivel nanométrico

El Professional Stylus Surface Profiler es un sistema de medición de contactos de alta precisión diseñado para un análisis preciso de la altura del escalón, la rugosidad superficial y la topografía superficial 3D. Utilizando un estilete de diamante que traza suavemente la superficie de la muestra, captura variaciones finas de la superficie con una resolución y estabilidad excepcionales. Esto garantiza resultados de medición altamente fiables y repetibles para aplicaciones industriales y de laboratorio exigentes.

Cómo funciona

El sistema funciona basándose en un método de medición de tipo contacto. A medida que el estilete se desplaza por la superficie, su desplazamiento vertical refleja los contornos superficiales. Este movimiento se captura como una señal eléctrica a través de un puente de medición, generando una salida modulada en amplitud proporcional al desplazamiento vertical. La señal se amplifica, procesa mediante rectificación sensible a la fase y se filtra para eliminar ruido y ondulaciones. Esto garantiza que la salida final sea una señal limpia y estable, proporcionando mediciones precisas de altura y rugosidad del paso, libres de interferencias externas ni ondulaciones.

Aplicaciones clave

• Metrología de obleas semiconductoras: Medición y análisis precisos de obleas semiconductoras para garantizar una fabricación de alta calidad.
• MEMS y microestructuras: Perfilado preciso de MEMS (Sistemas Microelectromecánicos) y microestructuras para mediciones detalladas de superficie.
• Espesor de película fina y recubrimiento: Evaluación del grosor y uniformidad de películas finas y recubrimientos, críticos para diversos procesos de fabricación.
• Perfilado de superficies de células solares: Mediciones precisas de superficie para células solares, optimizando el rendimiento y la calidad de fabricación.
• Óptica de precisión y dispositivos médicos: Medición de ópticas de precisión y dispositivos médicos para mantener altos estándares de calidad y rendimiento.

Características principales

• Rendimiento estable: Garantiza un funcionamiento consistente con una transmisión rápida, calibración automática y mediciones precisas.
• Diseño revolucionario de escritorio: Logra un equilibrio entre alto rendimiento, facilidad de uso y rentabilidad en un montaje compacto de bancada.
• Diseño compacto y fiable: Una configuración optimizada del hardware garantiza una alta precisión, estabilidad y eficiencia en las pruebas.
• Materiales y durabilidad superiores: Fabricados con materiales de alta calidad para garantizar durabilidad, larga vida útil y rendimiento eficiente.

Características del equipamiento

• Rendimiento inigualable: Reproducibilidad a altura de paso inferior a 4A, con capacidades de escaneo mejoradas.
• Diseño de un solo arco: Proporciona una estabilidad de ruptura, minimizando interferencias de ruido ambiental y permitiendo un amplio rango vertical con escaneo de baja fuerza.
• Electrónica inteligente mejorada: Reduce el ruido y mejora la precisión de las mediciones, siendo capaz de medir alturas de paso por debajo de 10 nm.
• Configuración optimizada del hardware: Reduce el tiempo de adquisición de datos en un 40%, mejorando la eficiencia de medición.
• Software síncrono Vision64 de 64 bits: Acelera el procesamiento de datos, aumentando la velocidad de análisis de datos en 10 veces.
• Interfaz de usuario intuitiva: El software Vision64 ofrece una interfaz simplificada y fácil de usar para facilitar la configuración y el análisis.
• Sistema automático de alineación de puntas: Simplifica los cambios de la sonda con el ensamblaje autoalineante, reduciendo los riesgos durante la transición.
• Amplia gama de modelos de sonda: Ofrece varios tamaños y formas de sondas, garantizando compatibilidad con casi cualquier aplicación.
• Diseño de sensor único: Proporciona mediciones de baja fuerza con un amplio rango de escaneo en un solo plano.
• Pruebas de alto rendimiento: Garantiza pruebas rápidas con múltiples muestras para mediciones precisas de película delgada con una repetibilidad superior.

Parámetros técnicos

Casos de aplicación

1. Pruebas de película fina – Asegurando altos rendimientos:
   En la fabricación de semiconductores, el instrumento escalonado ayuda a monitorizar la uniformidad de deposición y grabado, el esfuerzo de la película delgada y el grosor de la película delgada de la ITO. Su alta reproducibilidad garantiza mediciones precisas, optimizando el grabado y la deposición para obtener mejores rendimientos.
2. Inspección de rugosidad superficial – Garantizar el rendimiento:
   Ideal para evaluar la rugosidad superficial en componentes de precisión en industrias como automoción, aeroespacial y dispositivos médicos. Por ejemplo, mide la rugosidad de los recubrimientos ortopédicos para implantes para asegurar la calidad y adhesión del producto.
3. Análisis de líneas de redes solares – Reducción de costes de fabricación:
   Perfecto para medir las dimensiones de las líneas conductoras de la rejilla plateada en paneles solares. El instrumento escalonado garantiza que el uso de plata esté optimizado para una mejor conductividad, contribuyendo al ahorro en la producción de paneles solares.
4. Tecnología de Microfluídica – Detección de diseño y rendimiento:
   Utilizado en tecnología MEMS y microfluídica para pruebas de cualificación. La función de medición de NLite de baja fuerza permite la detección precisa de escalones verticales y rugosidad en materiales fotosensibles, asegurando la precisión y el rendimiento del diseño.

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