Perfilómetro de superficie
Un perfilómetro de superficie es un instrumento de medición de precisión diseñado para evaluar la rugosidad superficial, la textura y las características del microperfil con gran exactitud. El perfilómetro de superficie utiliza tecnología avanzada de detección de contacto u óptica para capturar variaciones detalladas de altura superficial, permitiendo un análisis fiable de las características finas de la superficie. El perfilómetro de superficie se utiliza ampliamente en procesos de inspección de calidad donde la caracterización precisa de la superficie es esencial para el control de fabricación y la consistencia del producto.
- Linealidad: ±(0.7 |0.12H|)μm
- Circularidad: ±(1,2 R/12)μm
- Ángulo: ±1′
- Rectitud: 00,5μm/100mm
Descripción del producto
Introducción
El perfilómetro de superficie desempeña un papel fundamental en el aseguramiento de la calidad industrial moderno, ya que ofrece mediciones superficiales rápidas, repetibles y altamente precisas. En comparación con los métodos tradicionales de inspección manual, mejora significativamente la eficiencia de la medición, reduce el error del operador y garantiza una producción de datos consistente para la evaluación de producción. Este sistema se aplica comúnmente en la fabricación de semiconductores, la ingeniería automotriz, los componentes aeroespaciales y las industrias de mecanizado de precisión, donde se requieren estrictos estándares de calidad superficial.
Características principales
- Rendimiento estable: Operación constante y fiable.
- Transmisión rápida: Transmisión rápida de datos para mayor eficiencia.
- Calibración automática: Garantiza mediciones precisas con un esfuerzo mínimo.
- Medición precisa: Proporciona resultados de alta precisión para mediciones críticas.
- Respuesta rápida: Tiempo de respuesta rápido para un análisis eficiente.
- Monitorización en tiempo real: Monitoriza las mediciones y muestra los resultados en tiempo real.
Perfilómetro de rugosidad - Especificaciones técnicas
Funciones de medición de contorno:
- Dimensiones: Distancia horizontal, distancia vertical, distancia lineal, radio y diámetro.
- Ángulos: Ángulo horizontal, ángulo vertical y ángulo incluido.
- Tolerancias posicionales: Paralelismo y perpendicularidad.
- Tolerancias de forma: Rectitud, convexidad y tolerancias de perfil de arco.
- Generación auxiliar: Puntos auxiliares, líneas auxiliares y círculos auxiliares.
Análisis de criptogramas:
- Ra, Rammax, Ramin, Rasd, Rp, Rpmax, Rpmin, Rpsd, Rv, Rvmax, Rvmin, Rvsd, Rz, Rzmax, Rzmin, Rzsd, R3z, Rc, Rcmax, Rcmin, Rcsd, Rt, Rq, Rqmax, Rqmin, Rdsd, Rsk, Rskmax, Rsmin, Rsksd, Rku, Rkumax, Rkumin, Rkusd, Rsm, Rsmmax, Rsmmin, Rsmsd, Rs, R△a, R△amax, R△amin, R△asd, R△q, R△qmax, R△qmin, R△qsd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Rλa, Rλamax, Rλamin, Rλasd, Rλq, Rλqmax, Rλqmin, Rλqsd, Rδc, Rpc, Rmr
Análisis de ondulaciones:
- Wa, Wamax, Wamin, Wasd, Wsa, Wca, Wa08, Wc, Wcmax, Wcmin, Wcsd, Wt, Wz, Wzmax, Wzmin, Wzsd, Wp, Wpmax, Wpmin, Wpsd, Wv, Wvmax, Wvmin, Wcsd, Wq, Wqmax, Wqmin, Wqsd, Wsm, Wsmmax, Wsmmin, Wsmsd, Wsk, Wskmax, Wskmin, Wsksd, Wku, Wkumax, Wkumin, Wkusd, W△q, W△qmax, W△qmin, W△qsd, Wδc, Wmr
Análisis original de contorno:
- Pa, Pt, Pp, Pc, Pv, Pz, Pq, Psm, Psk, Pku, RzJ, Rpq, Rvq, Rmq, Pmr, P△q, Avh, Hmax, Hmin, Área, Pδc, Tilta
Parámetros del equipo
| Rango de medición | Driver en dirección X | 130mm | |
| Z1 | Rango de medición del perfil | 40mm | |
| Z1 | Rango de medición de rugosidad | ±1500μm | |
| Z1 | Resolución 0,02 micrómetros | ||
| Altura del eje Z (columna) | 550mm | ||
| Agujero interior mínimamente detectable | 10mm | ||
| Parámetros técnicos de contorno | Linealidad | ±(0.7 |0.12H|)μm | |
| Circularidad | ±(1,2 R/12)μm | ||
| Ángulo | ±1′ | ||
| Rectitud | 00,5μm/100mm | ||
| Parámetros técnicos de rugosidad | Precisión de linealidad | ≤±5% | |
| Ruido residual | ≤0,005μm | ||
| Estabilidad de repetibilidad | Valor de prueba 3% | ||
| Longitud de onda de corte | 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm | ||
| Longitud de evaluación | λcX1, 2, 3, 4, 5 | ||
| Sensor | Tipo | EE. UU. | |
| Resolución | 0.02μm | ||
| Origen | EE. UU. | ||
| Ángulo de ascenso | Ascenso de 77 grados, descenso de 88 grados | ||

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