Perfilómetro de superficies para herramienta de análisis superficial preciso

Introducción

The surface profilometer plays a critical role in modern industrial quality assurance by delivering fast, Repetible, and highly accurate surface measurements. Compared with traditional manual inspection methods, it significantly improves measurement efficiency, reduces operator error, and ensures consistent data output for production evaluation. This system is commonly applied in semiconductor manufacturing, automotive engineering, aerospace components, and precision machining industries where strict surface quality standards are required.

Características principales

Rendimiento estable: Consistent and reliable operation.
Fast Transmission: Quick data transmission for efficiency.
Automatic Calibration: Ensures precise measurements with minimal effort.
Accurate Measurement: Provides high-accuracy results for critical measurements.
Rapid Response: Fast response time for efficient analysis.
Real-Time Monitoring: Monitors measurements and displays results in real time.

Roughness Profilometer - Especificaciones técnicas

Contour Measurement Functions:

Dimensiones: Horizontal distance, vertical distance, linear distance, Radio, and diameter.
Angles: Horizontal angle, vertical angle, and included angle.
Positional Tolerances: Parallelism and perpendicularity.
Form Tolerances: Rectitud, convexity, and arc profile tolerances.
Auxiliary Generation: Auxiliary points, auxiliary lines, and auxiliary circles.

Cryptogram Analysis:

Ra, Rammax, Ramin, Rasd, Rp, Rpmax, Rpmin, Rpsd, Rv, Rvmax, Rvmin, Rvsd, Rz, Rzmax, Rzmin, Rzsd, R3z, Rc, Rcmax, Rcmin, Rcsd, Rt, Rq, Rqmax, Rqmin, Rdsd, Rsk, Rskmax, Rsmin, Rsksd, Rku, Rkumax, Rkumin, Rkusd, Rsm, Rsmmax, Rsmmin, Rsmsd, Rs, R△a, R△amax, R△amin, R△asd, R△q, R△qmax, R△qmin, R△qsd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Rλa, Rλamax, Rλamin, Rλasd, Rλq, Rλqmax, Rλqmin, Rλqsd, Rδc, Rpc, Rmr

Waviness Analysis:

Wa, Wamax, Wamin, Wasd, Wsa, Wca, Wa08, Wc, Wcmax, Wcmin, Wcsd, Wt, Wz, Wzmax, Wzmin, Wzsd, Wp, Wpmax, Wpmin, Wpsd, Wv, Wvmax, Wvmin, Wcsd, Wq, Wqmax, Wqmin, Wqsd, Wsm, Wsmmax, Wsmmin, Wsmsd, Wsk, Wskmax, Wskmin, Wsksd, Wku, Wkumax, Wkumin, Wkusd, W△q, W△qmax, W△qmin, W△qsd, Wδc, Wmr

Original Contour Analysis:

Pa, Pt, Pp, Pc, Pv, Pz, Pq, Psm, Psk, Pku, RzJ, Rpq, Rvq, Rmq, Pmr, P△q, Avh, Hmax, Hmin, Área, Pδc, Tilta

Parámetros del equipo

Rango de medición	Driver en dirección X		130mm
	Z1	Rango de medición del perfil	40mm
	Z1	Rango de medición de rugosidad	±1500μm
	Z1	Resolution 0.02 micrometers
	Z-axis height (column)		550mm
	Agujero interior mínimamente detectable		10mm
Parámetros técnicos de contorno	Linealidad		±（0.7+\|0.12H\|）μm
	Circularidad		±(1,2 R/12)μm
	Ángulo		±1′
	Rectitud		00,5μm/100mm
Parámetros técnicos de rugosidad	Precisión de linealidad		≤±5%
	Ruido residual		≤0.005μm
	Estabilidad de repetibilidad		Valor de prueba 3%
	Longitud de onda de corte		0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm
	Longitud de evaluación		λcX1, 2, 3, 4, 5
Sensor	Tipo		EE. UU.
	Resolución		0.02μm
	Origen		EE. UU.
Ángulo de ascenso			77 degrees ascent, 88 degrees descent

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